内容简介
本书系统介绍了等离子体刻蚀工艺及设备的核心知识,涵盖等离子体物理基础、刻蚀机理、工艺参数优化及设备结构与控制等关键内容。全书从等离子体产生原理出发,深入解析了刻蚀过程中的物理溅射与化学反应协同作用,详细阐述了不同刻蚀气体、压力、功率等参数对刻蚀速率、选择比和形貌的影响规律。
在设备方面,重点讲解了电容耦合等离子体(CCP)、电感耦合等离子体(ICP)及电子回旋共振(ECR)等主流刻蚀设备的结构设计、真空系统、射频电源及终点检测技术,并介绍了设备在集成电路制造、MEMS、LED等领域的实际应用案例。此外,还讨论了刻蚀工艺中的常见缺陷、故障排除及工艺控制方法,为相关领域的工程技术人员提供了实用的操作指南。
本书兼具理论深度与工程实践性,适合半导体、微电子、材料科学等领域的研究人员、工程师及高校师生参考使用。
目录
“集成电路系列丛书”编委会
编委会秘书处
出版委员会
“集成电路系列丛书·集成电路产业专用装备”编委会
第1章 集成电路简介
1.1 集成电路简史
1.2 集成电路分类
1.3 集成电路未来的挑战
参考文献
第2章 等离子体基本原理
2.1 等离子体的基本概念
2.2 集成电路常用的等离子体产生方式
参考文献
第3章 集成电路制造中的等离子体刻蚀工艺
3.1 等离子体刻蚀的发展
3.2 前道工艺
3.3 中道工艺及后道工艺
参考文献
第4章 集成电路封装中的等离子体刻蚀工艺
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